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蔡司光學復合三坐標測量機O-INSPECT系列
  • 產品型號:
  • 更新時間:2024-08-09

簡要描述:蔡司光學復合三坐標測量機O-INSPECT系列
蔡司工業測量是*的三坐標測量生產商,是三坐標測量技術的發明者和奠基者,致力于為工業制造領域及測量實驗室的多維測量需要提供專業的測量解決方案。蔡司獨立研發生產所有主要部件,確保了產品高品質和高性能的承傳。

產品詳情


蔡司光學復合三坐標測量機O-INSPECT系列



蔡司光學復合三坐標測量機O-INSPECT系列

特點:

蔡司工業測量是的三坐標測量生產商,是三坐標測量技術的發明者和奠基者,致力于為工業制造領域及測量實驗室的多維測量需要提供專業的測量解決方案。蔡司獨立研發生產所有主要部件,確保了產品高品質和高性能的承傳。

O-INSPECT 543作為一款創新意義的工業測量產品,致力于但又不局限于小、薄、軟零件之幾何量尺寸測量。這是一款現代化的復合式掃描測量系統,測量范圍為500*400*300mm,占地面積小抗環境變化能力強,適用于各類型測量室或車間。其設計新穎*,于光學測量特征之外融入*的高分辨率低測力連續掃描及寬溫測量等因素,以更好地滿足于現代測量的需要。

O-INSPECT 543可滿足制造業對于尺寸與掃描精度、尺寸測量及形位公差評定的廣泛要求。采用*的復合式掃描平臺,支持從二維視像到復雜三維特征或三維工件量測,整體量測重復性。除了滿足實驗室的精密量測應用, O-INSPECT 543亦可用于車間的批量化在線檢測。

ZEISS O-INSPECT每個領域中的專家
來自蔡司的O-INSPECT復合式測量機使您能理想地測量到每一個特征——通過光學或接觸式。一個重要的特色:O-INSPECT在18-30℃的溫度范圍內提供符合ISO標準的可靠三維精度。一個附加的亮點:CALYPSO軟件不僅簡便地交付測量結果,而且簡化了發覺和辨識錯誤原因的過程。

蔡司光學復合三坐標測量機O-INSPECT系列

O-INSPECT 322                                                           O-INSPECT 543                                       O-INSPECT 863

測量范圍[dm] 3/2/2                                          測量范圍[dm] 5/4/3                          測量范圍[dm] 8/6/3


大視野,高清圖像——蔡司Discovery遠心變焦鏡頭

蔡司Discovery.V12來自蔡司顯微鏡事業部。與常規鏡頭比較,提供四倍更大視場,即便于鏡頭周邊區域亦可確保圖像質量。優點:減少測量時間并具有穩定的精度。

更多測量點,更多信息——蔡司VAST XXT連續掃描測頭

O-INSPECT配備靈活、快速及高精度的VAST XXT接觸式連續掃描測頭。 通過這種掃描測頭即可捕捉相當大量的測量點,取得有關形狀和位置的信息,是此類測量機中的*。別的多探頭測量機僅允許單點測量,而且探針測力相當大;蔡司O-INSPECT卻能以毫牛級別探針測力進行掃描測量,所以針對薄壁的工件也能實現真正的3D測量。

既快速又精準。讓您一目了然——蔡司CALYPSO軟件

O-INSPECT與CALYPSO測量軟件提供全新的可視化功能,使O-INSPECT全面開啟了測量機可視化的新紀元。通過它們您可以同時查看實際狀態、理論狀態及偏差,更快捷詮釋測量結果。

蔡司光學復合三坐標測量機O-INSPECT系列

技術參數

產品名稱

O-INSPECT 543

O-INSPECT 442

O-INSPECT 322

O-INSPECT 863*

產品外觀

蔡司光學復合三坐標測量機O-INSPECT系列

蔡司光學復合三坐標測量機O-INSPECT系列

蔡司光學復合三坐標測量機O-INSPECT系列

蔡司光學復合三坐標測量機O-INSPECT系列

配置

Discovery遠心變焦鏡頭

自適應照明系統

VAST XXT掃描探頭

測針架

標準球

選項

白光距離傳感器

轉臺

含玻璃托盤和網格托盤的上下料系統

校準托盤

軟件

CALYPSO

長度測量 誤差E0


光學(1D)[μm] 1.7+L/250

接觸(1D)[μm] 1.7+L/250

光學(1D)[μm] 1.6+L/200

接觸(1D)[μm] 1.6+L/200


測量范圍 [mm]

X500, Y400, Z300

X400, Y400, Z200

X300, Y200, Z200

X800, Y600, Z300






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